加州大学Patents假冒芯片探测器

旨在发现集成电路（ICS）的芯片探测器，由加利福尼亚大学获得专利。

该技术基于轻量级传感器，其监测电迁移（EM）引起的老化效果 - 由于金属原子沿着所施加的电场的方向而发生，导致阴极端部的较低金属密度。

系统“利用互连电线的自然老化/故障机制来时间芯片的老化，”并且能够检测IC的年龄不对应于产品标签上的索赔。

电子废物（电子废物）回收是伪造IC的来源，估计中国有25万人专门从事电子商品回收材料。这些材料有时像市场上那样被造成了徽章。

该专利的摘要出现在下面：

片上老化传感器和假冒集成电路检测方法

抽象的：示出了片上老化传感器和用于检测假冒集成电路的相关方法。在一个示例中，片上老化传感器集成在芯片内。在一个示例中，片上传感器包括片上时效传感器，以及包括芯片独特的静态信息的反熔丝存储器块。

美国专利No.10,298,236