用微波炉识别假冒电子产品;专利

美国密苏里大学获得一项美国专利，利用微波技术检测假冒电子元件反射计。

该专利指出，电子设备具有独特的电磁特征，这是由集成电路(ICs)的布局、外壳材料以及是否使用硅等因素造成的。它描述了各种检测赝品的方法，包括用微波辐照设备，并将反射回来的电磁信号与参考设备进行比较。一个优点是可以在组件未通电时执行测试。

这种方法可以与其他用于检测假冒电子元件的技术一起使用，如尺寸差异的物理检查、x射线检查、电气测试和解封装——使用酸来揭示集成电路的内部工作方式——尽管后者并不理想，因为它会破坏样品。

专利摘要如下:

物理检查用微波反射计

文摘:利用微波反射来比较参考器件与假冒和/或老化的被测器件。受测设备反射的电磁波会根据某些特性而变化，这导致每个设备都具有独特的、固有的电磁信号。将被测设备的电磁特征与参考设备的电磁特征进行比较，可以评估被测设备的可接受性。

专利号10921264