巴特尔使用假芯片样本来测试验证技术

一项检测假冒电子芯片的低成本技术将通过一个假冒样品数据库进行检验。

该产品于今年早些时候首次推出街垒技术该产品由非营利性公司巴特尔开发，旨在实现集成电路(ICs)的非破坏性验证，防止伪造元件最终出现在电子设备中。

巴特尔已经同意进入先进的伪造和克隆设备测试样本的库存，把电子部件分销商SMT公司，将用于测试Barricade系统的能力。

根据Battelle的说法，Barricade“能够……以每一个部件几美分的价格，以每一个部件几秒的产量，对每个部件进行100%的验证，而无需修改集成电路设计、对现有库存的物理更改或对电子部件制造工艺的任何更改。”

该技术结合了硬件和软件，从每个组件收集、分析和分类功耗波形，为IC创建一个独特的签名，适用于模拟和数字设备。

IHS - 2012年报告编纂的数据显示,模拟集成电路仅占超过25%的报道事件的假冒半导体,紧随其后的是微处理器芯片为13.4%,内存ic为13.1%,可编程序逻辑集成电路和晶体管的支持率分别为8.3%和7.6%。

只需要几个相同的设备就可以将一整类芯片注册到系统中。巴特尔说，该过程可以在供应链的任何点执行，以极大地降低假冒/克隆部件进入的风险，并解决可能出现的防伪新规定。

巴特尔网络创新集团的网络产品开发总监Stylianos Kaminaris表示，该交易将使该项目“超越研发阶段，迈向真实世界的可扩展测试解决方案”。

根据IHS的数据，2012年，这些领域的假冒产品年度市场规模约为1690亿美元。